1차 정리 - 서브 공부/연구,측정 장비7 XPS, 광전자 분광법 XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy) 광전자 분광법 표면 분석에 있어서 가장 잘 알려져 있고, 널리 사용된다. 아인슈타인의 광전효과 (photoelectric effect)를 기반으로 고에너지의 빛과 표면의 상호작용에 기인한 광전 효과에 의해 방출된 전자의 운동 에너지를 측정하여 분석한다. - 광원, power source - 어떤 내용을 분석하는지 - 특징 - 최외각 전자의 측정 - 일반적인 원소의 피크 위치 - 참고 1. 전자는 어떻게 튀어나오게 되는지 2. 비탄성적 평균 자유 행로(inelastic mean free path, ℷ ): 전자의 특성을 설명하는 물리량 3. 원자/전자껍질 4. 화학적 천이 광원, power source 광원으로 X-선을 사용한다. X-선.. 2020. 4. 17. UV-Vis-NIR - 흡광도, 반사도, 투명도 측정 NIR (Near Infrared Radiation) 이란? 적외선 (Infrared)은 크게 으로 나눌 수 있다. 그 중 근적외선 (Near Infrared)은 750 - 2,500 nm 영역 사이의 빛으로서 가시광선 (Visible)과 중간 적외선 (Mid IR) 사이에 위치한다. 모든 적외선 영역의 빛은 분자와 상호작용을 일으키며, 분자 내 다양한 화학 결합은 그들 고유의 진동 에너지와 일치하는 파장의 빛을 흡수한다. 이 빛의 흡수 정도는 분자의 구조/농도와 직접 연관되어 있어 분자에 대한 정보를 제공한다. 전체 적외선 중 근적외선 영역에서는 특히 식물, 동물의 대부분을 구성하는 유기화합물인 C-H, O-H, N-H 결합에서의 흡수가 두드러지게 나타난다. 이 결합의 흡수는 중간적외선 (Mid IR).. 2020. 4. 6. Electronspinning (electrospun) 전자방사 Electrospinning (electrospun) 전자방사 고분자 용액에 전기장(고전압)을 가해 실처럼 나노섬유를 뽑아내는 전기방사 공정. 전기방사장치 (electrospinning/electrospun), 전기분무장치 (electrospraying), 용융 전기방사장치 (meltelectrospinning), 섬유, 물방울/구슬/비드, 지주 (structure) 등 제작되는 형상에 따라 명칭이 정해진다. 구성 주사기 펌프 (syringe pump), 고전압 공급 장치 (high voltage power supply), 방사된 섬유 수집판 (collector)으로 구성. 원리 일반적으로 전기방사장치는 속도를 제어한 고분자 용액을 고전압이 걸린 모세관 노즐 팁(Nozzle tip)을 통해 토출시킨다. .. 2020. 4. 5. UV-Vis-Spectrometer UV-Vis-Spectrometer - 원리 - 측정 parameter - 장비 구성 원리 원자나 분자가 외부에서 에너지를 받으면 여러 가지 현상을 일으키는데 이때 에너지의 크기에 따라 그 현상은 다르다. 보통 빛이라고 부르는 전자기 복사 중에서 그 파장의 범위가 약 100 nm 에서 1000 nm에 이르는 자외선-가시광선의 에너지는 원자나 분자 궤도에 있는 전자들을 전이시키는데 충분한 에너지이다. 다시 말하면, 바닥 상태에 있는 원자나 분자가 자외선 및 가시광선을 흡수하면서 전자전이를 일으킨다. 에너지를 흡수하면 원자와 분자는 낮은 에너지 상태에서 높은 에너지 상태로 들뜨게 되며, 전자기 복사선의 에너지가 들뜬상태와 바닥상태 사이의 에너지 차이와 같을 때 흡수가 일어난다. 자외선과 가시광선 흡수 분광법.. 2020. 4. 4. XRD ( X-ray diffraction) - 결정구조를 통한 물질 파악 - XRD 원리 - Bragg Equation - 참고 XRD 측정 원리 X선을 결정에 부딪히면 그 중 일부는 회절을 일으키고, 그 회절각과 강도는 물질구조상 고유한 것이다. 이로 인해 시료에 함유된 결정성 물질의 종류와 양에 관계되는 정보를 알 수 있다. (X 선을 물질에 쏘아 나오는 반사파를 분석합니다) XRD를 통해 우리는 crystal structure을 알 수 있다. X선을 쓰는 이유는 파장이 짧아서인데, 파장이 짧으면 짧을수록 가진 에너지가 크기 때문에 material에 깊이 침투가 가능합니다(투과성과 직진성이 커집니다). 반면, 파장이 길면 파장의 휘어짐이 심해서 멀리 갈 수 있지만 에너지 부족/깊이 침투 불가/원자를 만났을 시 튕겨 나오는 것뿐만 아닌 분산되는 에너지가 많게 됩니다. 1, .. 2020. 4. 2. AFM (Atomic Force Microscopy) - 표면 분석 AFM (Atomic Forc Microscopy - 원리 - 측정방법 - AFM 종류 - 측정 가능한 parameter - 한계 원리 AFM에서는 *STM과 달리 텅스텐 또는 백금으로 된 탐침 대신 나노 기술로 제조된 Probe를 사용. 이 프로브는 프로브의 substrate 끝에 아주 미세한 힘에서 쉽게 휘어지는 cantilever가 있고, 이 끝에는 탐침(tip)이 부착되어 있다. Probe tip의 끝을 샘플 표면에 근접시키면 인력 또는 척력이 작용하여 cantilever의 휨이 발생, 이를 레이저로 Detect하여 정보를 제공한다. (보통 표면의 높이 변화) 나노기술로 제조된 probe 사용, 끝에 조금 튀어나온 부분이 Cantilever 측정방법 3가지 측정 방법 1. 샘플을 긁을 수 있어, .. 2020. 4. 1. 이전 1 2 다음 반응형
