서브 공부/연구,측정 장비8 AFM (Atomic Force Microscopy) - 표면 분석 AFM (Atomic Forc Microscopy - 원리 - 측정방법 - AFM 종류 - 측정 가능한 parameter - 한계 원리 AFM에서는 *STM과 달리 텅스텐 또는 백금으로 된 탐침 대신 나노 기술로 제조된 Probe를 사용. 이 프로브는 프로브의 substrate 끝에 아주 미세한 힘에서 쉽게 휘어지는 cantilever가 있고, 이 끝에는 탐침(tip)이 부착되어 있다. Probe tip의 끝을 샘플 표면에 근접시키면 인력 또는 척력이 작용하여 cantilever의 휨이 발생, 이를 레이저로 Detect하여 정보를 제공한다. (보통 표면의 높이 변화) 나노기술로 제조된 probe 사용, 끝에 조금 튀어나온 부분이 Cantilever 측정방법 3가지 측정 방법 1. 샘플을 긁을 수 있어, .. 2020. 4. 1. 소니케이터(sonicator) 원리 Sonicatior 압전 효과를 찾는 과정에서, 실험실에서 매번 사용하는 소니케이터가 한 application이라 하여 정리해봅니다.클리닝을 위해 특정 샘플의 표면에 붙은 물질들을 떨어트리는데 사용하고,용액에 무언가를 풀 때, aggregation을 풀 때, 등등 사용합니다. - Sonication 발생 원리- 초음파의 특성 Sonication 발생 원리 압전(piezoelectric)효과가 나타나는 물질을 사용해서, 역압전 효과를 통해 전기자극 주고 기계적인 변화에 의해 진동이 일어나는 성질을 사용한다. 이런 물질에 초당 2만번의 전기적 spark를 가하면 초당 2만번의 진동이 일어나게 되는 것이다. 이러한 압전성물질이 소니케이터 내에 사용되고, 이 부분을 converter/transducer 라고.. 2020. 3. 25. 이전 1 2 다음 반응형
